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精微高博比表面仪亮相美国实验室展PITTCON2018

北京精微高博科学技术有限公司  2018-02-28  点击558次

PITTCON 2018全球最顶端的分析化学,科学分析及实验室展于2018226-31日在美国奥兰多盛大举行。

我国微纳米新材料表征与测试仪器领域的领航者精微高博亮相Pittcon,展位号:1357--1359,欢迎莅临展位指导!

精微高博现场展示了研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪JW-BK200C产品。

JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌,配备有“涡轮分子泵”及1Torr(0.1Torr)小量程压力传感器,配合微孔分析模型的准确应用,完全实现了微孔的精确分析,氮吸附微孔最小孔径实际可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究。

如要了解更多精微高博信息,请致电400-600-5039

北京精微高博科学技术有限公司被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”,在国内率先研发成功动态全自动比表面仪、BET比表面仪、阶梯法动态比表面仪、単气路常压孔径分析仪、静态容量法介孔分析仪、静态四站比表面测定仪、高性能静态微孔分析仪、气体法真密度仪、高压吸附仪等。JW(精微)产品已远销国外,包括欧洲、日本、巴西、印度、泰国、蒙古、朝鲜等十余个国家、地区。