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精微高博比表面仪亮相2018成都高等教育博览会

北京精微高博科学技术有限公司  2018-10-22  点击576次

10月19日,第52届中国高等教育博览会在四川省成都市成都世纪城新国际会展中心拉开序幕。


中国高等教育博览会由教育部主管、中国高等教育学会主办,其前身为1992年秋在南京举办的“全国高教仪器设备展示会”。目前已有26年的发展历史,是目前我国高等教育领域唯一的规模最大、举办时间最长、影响力最广的,集教学仪器设备与实践教学高端论坛于一体的综合性展会。本届高博会展出面积高达50000余平米,布设了信息化&智慧教育类、实验室&科研仪器设备与技术类、实训&机电类等多个展区。


北京精微高博科学技术有限公司作为中国氮吸附仪的开拓者,受邀参加了本次高等教育盛会。和现场来宾一同交流、探讨高校实验室及科研仪器设备的前沿技术与趋势。

JW-DX型动态吸附比表面测定仪

比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,最常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积.广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。

JW-BK200C高性能物理吸附仪

JW-BK200系列高性能物理吸附仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题,该系列产品根据测试功能不同区分为A、B、C三种型号,其中高端C型研究级设备因双站均配置有超低压1torr或0.1torr压力传感器,及10-8Pa超低真空度涡轮分子泵,可有效解决分子筛、催化剂、活性炭等多微孔样品的高效率超微孔分析。

北京精微高博科学技术有限公司是国家高新技术企业,成立于2004年,专业从事氮吸附比表面及孔径分析仪的研发、生产及销售。精微高博是中国新一代动态BET 比表面仪、单气路常压动态孔径分析仪、静态容量法比表面及孔径分析仪、高精度静态微孔分析仪等仪器的原创厂家,具有多项自主知识产权和国家专利,产品性能具有国际先进水平,参与国家标准GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》的制定。